使用薄膜測厚儀的原因：

 

　　這種儀器在行業(yè)當(dāng)中的度很高，有著非常重要的作用，它可以測試金屬以及其他各種材料的厚度，現(xiàn)如今被廣泛的運用在化工，冶金、造船、石油、航天等領(lǐng)域當(dāng)中，能給人們的生活帶來很大的幫助。同時它在特點方面也非常突出，比如擁有非常小的體積，很緊湊的結(jié)構(gòu)。

 

　　儀器使用的過程中，很方便攜帶，減少占用空間的同時，也給人們的生活帶來了便利的條件，從而讓大家在使用儀器的時候變的更方便；在操作和維護的時候也非常簡單，能夠為使用者減少很多不必要的麻煩，同時也能讓使用者在的時間內(nèi)完成測量任務(wù)，從而讓用戶得到的滿足。使用薄膜測厚儀能夠讓使用者快速掌握產(chǎn)品的具體測量結(jié)果，幫助使用者做出正確的決定，從而讓企業(yè)能夠把握的發(fā)展條件。此儀器屬于一種非常好的測量儀器，具備很多優(yōu)點，能夠為大家的測量帶來方便的同時也能提高整體的生產(chǎn)質(zhì)量，所以大家在選擇的時候一定要注意設(shè)備的質(zhì)量和售后服務(wù)。

 

　　使用薄膜測厚儀的注意事項：

 

　　使用儀器給薄膜厚度測量之前，一定要進行零點校準(zhǔn)，對于校準(zhǔn)的基本材料是可以使用沒有涂層材料進行檢驗的，因為這樣能程度上消除物體形狀以及表面的粗糙帶來的誤差。

 

　　薄膜測厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

 

　　同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等

 

　　薄膜測厚儀測量注意事項：

 

　?、痹谶M行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

 

　?、矞y量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

 

　?、硿y量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

 

　?、礈y量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

 

　?、禍y量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

 

　?、稖y量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

 

　?、吩跍y量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。

 

　?、冈谶M行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此薄膜測厚儀在進行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。